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测试治具及测试治具的自适应贴合密封装置

摘要:
本实用新型提供的测试治具的自适应贴合密封装置,包括接触件及调整件,接触件设于容置槽内,其包括至少一个接触面,且接触件设有第一穿插孔;调整件设于容置槽的底端壁面与接触件之间,且调整件设有第二穿插孔,第二穿插孔分别与测试治具的进入口、第一穿插孔连通。该自适应贴合密封装置包括接触件及调整件,由此,耳机耳套设于容置槽时,不管耳机耳套设于容置槽的表面为平面或异形面,在其设于容置槽时,其先与接触件接触,然后借由调整件,以根据耳机耳套的外形轮廓对应调整接触件的接触面形状以与耳机耳套密封贴合,以此使到在进行耳机电声测试时可较好地保证测试数据的重复性。本实用新型还提供测试治具。
专利类型: 实用新型
申请(专利)号: CN201520088653.X 申请日期: 2015年02月06 公开(公告)日: 2015年07月22
公开(公告)号: CN204498375U 主分类号: H04R29/00,H,H04,H04R,H04R29 分类号:

H04R29/00,H,H04,H04R,H04R29,H04R29/00

申请(专利权)人: 深圳市冠旭电子有限公司 发明(设计)人: 窦力才,彭信龙,吴海全,师瑞文 主申请人地址: 518116 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥工业园东片区
专利代理机构: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文 国别省市代码: 广东;44
主权项: 法律状态:

010-57030564

周一至周五9:00-17:30

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